日本拓普康TOPCON 2D 二维光谱仪 SR-5100

特征

￭ 可进行高亮度光谱分析（170 亿cd/m2），分辨率高达500 万像素（2448 x 2048）。

￭ 可对光源波长特性、材料光谱透过率特性、物体光谱反射率特性等500万点光源和物体特性进行无损、非接触式光谱评价，

精度高。

￭ 具有与点式光谱仪相同性能的二维光谱仪。

￭ 高精度的亮度和色度精度通过使用具有良好光溯源性的光源进行校准来保证。

￭ 兼具分光法和XYZ滤光片测量法优点的高精度、高速转换机型。

￭ 软件作为标准包含在内。

主要用途

￭ LCD、OLED、QD、激光、Micro LED及相关材料的亮度、色度、光谱评估

￭ 汽车仪表盘及内外照明的排放分布特性、光谱评价

￭ LED照明和OLED照明的发光部分的亮度/色度不均和光谱光谱不均的评估

￭ 对室内和室外景观中所有物体的光谱评估

￭ 纤维染色织物的光谱评估

￭ 皮肤斑点、色斑等皮肤护理评价

￭ 吸收、反射和透射特性分析

￭ 测量薄膜和玻璃涂层的不均匀度、干涉条纹

￭ 病理组织染色状态的细微差异分析与定量评价（SR-5100HM+显微镜）

可选配件

￭ 三脚架：三脚架 5N 型

￭ 微动台：S-4

￭ MS-ADAPTER：ZV-60（用于连接显微镜 C 接口和 SR-5100HM 的适配器。）

￭ MS-CORRECT : ZV-57（用于显微镜镜头的光谱透射率校正工具）

￭ LENS-CORRECT：ZV-61（变焦镜头光谱透过率校正工具）